JASA ANALISIS Atomic Force Microscope (AFM)
JASA ANALISIS Atomic Force Microscope (AFM)
Layanan Kontraktual


DESKRIPSI LAYANAN | Fungsi Alat dan Batasan Pengujian: AFM atau scanning force microscopy ( SFM ) adalah jenis scanning probe microscopy (SPM) beresolusi sangat tinggi , dengan resolusi yang ditunjukkan pada urutan pecahan nanometer , lebih dari 1000 kali lebih baik daripada…

  • Laboratorium Karakterisasi Lanjut - Serpong (Metalurgi)
  • Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
  • Puspiptek - Serpong
    Gedung 224 dan gedung 225 Kawasan Sains dan Teknologi BJ. Habibie (PUSPIPTEK) Serpong, 15314, Tangerang Selatan, Banten – Indonesia
  • 08119811569
  • labmaterialmetalurgi@brin.go.id
  • Satuan Layanan: Per Kontrak
  • Waktu Pengerjaan Layanan: 14 Hari Kerja
  • Kuota Pelayanan Per Hari: 1
  • Kapasitas Layanan: 1 Per Kontrak
  • Jumlah Minimal Pengajuan: 1
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Ajukan Layanan
Fungsi Alat dan Batasan Pengujian: AFM atau scanning force microscopy ( SFM ) adalah jenis scanning probe microscopy (SPM) beresolusi sangat tinggi , dengan resolusi yang ditunjukkan pada urutan pecahan nanometer , lebih dari 1000 kali lebih baik daripada difraksi optik. Prasyarat Sampel: Merk dan type: Park NX10

E-mail layanan uji: labkarserpong@brin.go.id
 

Syarat Pengajuan:
  • File Data Foto
  • File Dukung Lainnya
Nama Berkas Ukuran Berkas
Berkas SOP Layanan 0.27 MB
Template File Data Foto 0 MB
Template File Dukung Lainnya 0 MB

Layanan Terkait